高低溫試驗(yàn)箱    

高低溫試驗(yàn)箱產(chǎn)品說明

隨著現(xiàn)代工業(yè)技術(shù)的迅速發(fā)展，電工、電子產(chǎn)品的應(yīng)用領(lǐng)域日益廣闊，所經(jīng)受的環(huán)境條件也愈來愈復(fù)雜多樣。只有合理地規(guī)定產(chǎn)品的環(huán)境條件，正確地選擇產(chǎn)品的環(huán)境防護(hù)措施，才能保證產(chǎn)品在儲(chǔ)存運(yùn)輸中免遭損壞，在使用過程中安全可靠。因而，電工、電子產(chǎn)品進(jìn)行人工模擬環(huán)境試驗(yàn)是保證其高質(zhì)量所*的重要環(huán)節(jié)。人工模擬環(huán)境試驗(yàn)是實(shí)際環(huán)境影響的科學(xué)概括，具有典型化、規(guī)范化、使用方便、便于比較等特點(diǎn)。環(huán)境條件的多樣化和環(huán)境試驗(yàn)的重要性也對(duì)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備提出了更嚴(yán)格的要求。

可以用來考核和確定電工電子產(chǎn)品或材料在溫度變化的環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性。設(shè)備采用強(qiáng)迫空氣循環(huán)來保持工作室內(nèi)溫度的均勻性。為限制輻射影響，設(shè)備內(nèi)壁各部分溫度與試驗(yàn)規(guī)定的溫度之差不大于8％，且試驗(yàn)樣品不會(huì)受到設(shè)備內(nèi)加熱與冷卻元件的直接輻射。

參照標(biāo)準(zhǔn)

滿足GB2423.1－2001試驗(yàn)A《高溫試驗(yàn)方法》; GB2423.2－2001試驗(yàn)B《低溫試驗(yàn)方法》以及其它相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求。嚴(yán)格按GB 10592—89《技術(shù)條件》進(jìn)行設(shè)計(jì)制造，可進(jìn)行相應(yīng)高、低溫環(huán)境試驗(yàn)。

主要技術(shù)參數(shù)

型號(hào)：　GDW－100C型   

工作室尺寸（D×W×H）： 400×500×500㎜

外型尺寸（D×W×H）： 1050×1000×1550㎜

溫度范圍：   －40℃～100℃

溫度均勻度：   ≤ 2℃  （空載時(shí)）

溫度波動(dòng)度：   ±0.5℃ （空載時(shí)）

溫度偏差：   ≤±2℃

升降溫速率：  0.7℃～1.0℃/min  （空載時(shí)）

時(shí)間設(shè)定范圍：   0～999 小時(shí)